产品
瞬态抑制二极管
高可靠性瞬态抑制二极管
通用型TVS二极管
汽车用TVS二极管
大功率系列TVS管
更多
+
静电抑制器
单路和多路ESD阵列
Polymer
汽车用ESD静电抑制器
多层结构型静电抑制器
更多
+
半导体放电管
高可靠性半导体放电管
通用型半导体放电管
PLED开路保护器
更多
+
气体放电管
压敏电阻
电路保护IC
可控硅
MOSFET
二极管
过流保护
晶体管
电路保护选型手册
Semiware的5000多个电路保护产品及组合,包括了静电保护、浪涌防护以及客制化的过压保护产品,满足各种行业需求
探索
参考设计
汽车电子
遥控门锁
车载电池充电器
直流快速充电桩
汽车大灯
更多
+
网络通讯
VDSL
室外AP
机顶盒
PBX
更多
+
视频监控
DVR
NVR
摄像机/云台
可视门禁
更多
+
消费类电子
电源及新能源
医疗电子
工业
照明
家电
2023应用参考设计
Semiware的300多个接口保护方案,覆盖了汽车电子、工业控制、消费类电子等行业领域。
探索
质量与资源
服务支持
新闻与活动
关于我们
公司信息
人才
联系我们
公司简介
Semiware 由多名电路保护行业技术人员联合创立,致力于成为优秀的电路保护解决方案综合服务商。
了解更多
注册
登录
简体中文
English
首页
中
EN
产品
瞬态抑制二极管
静电抑制器
半导体放电管
气体放电管
压敏电阻
电路保护IC
可控硅
MOSFET
二极管
过流保护
晶体管
参考设计
汽车电子
网络通讯
视频监控
消费类电子
电源及新能源
医疗电子
工业
照明
家电
质量
支持
新闻稿
公司信息
人才
联系我们
首页
>
质量
质量
持续提升流程、产品和服务的质量是客户满意度的基石
管理体系认证
质量政策与声明
可靠性
实验室资源
管理体系认证
我们严格遵守国际质量认证规范,致力于向客户提供高品质和可靠性的产品。Semiware的所有制造工厂都通过了IATF16949、ISO9001质量管理体系认证;ISO14001、ISO45000环境及职业健康安全认证;QC080000有害物质认证。
IATF 16949:2016
ISO 9001:2015
ISO 14001:2015
质量政策与声明
Semiware 致力于通过我们的日常实际行动,以期不断超越客户期望,打造更高效率、更高可靠性的半导体器件,提供更迅速 、更完善的服务体系。Semiware 的每一位员工都肩负着为内外客户提供高品质服务的责任担当。持续提升流程、产品和服务 的质量是客户满意度的基石。
环保声明
保质期
无冲突矿产声明
可靠性
如果您遇到产品可靠性问题并需要帮助,我们的故障分析团队将提供服务。请与您当地的销售代表联系,以完成我们的《失效分析要求表》,然后将其提交给我们的客户服务部门,我们将努力尽快评估和解决您的问题。
可靠性试验项目
失效分析要求表
实验室资源
电磁兼容
材料分析
可靠性
设备名称:静电放电发生器
设备型号:ESD61002TA
测试标准:EN/IEC61000-4-2和GB/T17626.2
放电形式:接触放电、空气放电
输出电压:0.2~±30kV
静电放电发生器
设备名称:组合浪涌发生器
测试标准:IEC61000-4-5和GB/T17626.5
开路输出电压:1.2/50us,0.2-6kV(10kV);10/700us,0.2-6kV
开路短路电流:8/20us,0.1-3kA(5kA);5/320us,0.01-0.4KA
组合型雷击浪涌发生器
设备名称:浪涌测试仪
设备型号:SUG61005TB
测试标准:IEC61000-4-5和GB/T17626.5
电压波:1.2/50μs,0.2~6kV
电流波:8/20μs,0.1~3kA
浪涌测试仪
设备名称:车载电子干扰模拟器
设备型号:RV P5
测试标准:ISO 16750和GB/T21437
稳定电压:12V±0.2V;24V±0.4V
车载电子干扰模拟器
设备名称:6KV雷击浪涌发生器
设备型号:SUR 700
标准:IEC 61000-4-5和GB/T 17626.5
电压波:10/700us;电流波:5/320us
输出电压: 0.2~6kV
6KV雷击浪涌发生器
设备名称:振铃波发生器
设备型号:RWI T6
标准:IEC61000-4-12和GB/T17626.12
输出电压: 0.2~6kV
振荡频率: 100KHz
内阻: 12Ω、30Ω、200Ω
振铃波发生器
设备名称:X-Ray射线检测机
设备型号:MVX2000
功能:检查产品键合线,芯片连接和引线框架,空洞气泡等
X-Ray射线检测机
设备名称:超声扫描仪
设备型号:D9650
功能:检查器件间的分层,芯片裂纹等
超声扫描仪
设备名称:电子数码显微镜
设备型号:VHX-7000N
功能:检查器件外观、裂纹、污染、划痕、氧化层缺陷等
电子数码显微镜
设备名称:扫描电镜
设备型号:ISFE1050
功能:器件表面的分析元素进行定性和半定量分析
扫描电镜
设备名称:切片研磨机
设备型号:SUC3200
功能:样品结构的剖面展示,内部结构或者异常点的寻找
切片研磨机
设备名称:膜厚测试仪
设备型号:FI-CH55
适用标准:GB/T16921-05 ISO3497
适用对象:电镀镀层厚度分析、测量
膜厚测试仪
设备名称:HTRB高温反偏系统
设备型号:BTR-T600
测试标准:JESD22-A108
功能:确定偏置条件和温度随时间对固态器件的影响。
HTRB高温反偏系统
设备名称:H3TRB偏置系统
设备型号:BTR-T671
测试标准:JESD22-A101
功能:模拟器件的高温,高湿,偏压条件下对湿气的抵抗能力
H3TRB高温高湿偏置系统
设备名称:高加速压力测试系统
设备型号:B-HAST-55
测试标准:JESD22-A110
功能:评估非密封封装器件在偏压下的耐湿性
HAST高加速压力测试系统
设备名称:IOL寿命试验系统
设备型号:BTD-T810
测试标准:MIL-STD-750
功能:评估产品在反复开启关闭过程中的可靠性
IOL寿命试验系统
设备名称:高低温冲击试验系统
设备型号:LCJ-540
测试标准:JESD22-A104
功能:评估产品承受交替高温和低温极端情况的能力
TCT高低温冲击试验系统
设备名称:盐雾腐蚀试验箱
设备型号:YWX-2000
测试标准:GB/T.2423.17
功能:评估产品或金属材料的耐盐雾腐蚀质量
盐雾腐蚀试验箱